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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
產(chǎn)品分類
產(chǎn)品介紹
BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
納米粒度及Zeta電位分析儀基本性能指標(biāo)
粒徑檢測(cè)
| 原理 | 動(dòng)態(tài)光散射技術(shù) |
粒徑范圍 | 0.3 nm – 15 μm |
樣品量 | 3 μL – 1 mL |
檢測(cè)角度 | 90 ° + 12° |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
Zeta電位測(cè)試
| 原理 | 相位分析光散射技術(shù) |
檢測(cè)角度 | 12° |
Zeta范圍 | 無(wú)實(shí)際限制 |
電泳遷移率范圍 | ＞±20 μ.cm/V.s |
電導(dǎo)率范圍 | 0 - 260 mS/cm |
| Zeta測(cè)試粒徑范圍 | 2 nm – 110 μm |
分子量測(cè)試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測(cè)試
| 頻率范圍 | 0.2 – 1.3 x 107 rad/s |
測(cè)試能力 | 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> |
折光率和粘度測(cè)試
| 粘度范圍 | 0.01 cp – 100 cp |
折光率范圍 | 1.3-1.6 |
趨勢(shì)測(cè)試
| 時(shí)間和溫度 |
系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15°C - 110°C |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/span> |
標(biāo)準(zhǔn)激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
相關(guān)器 | *快25 ns采樣，*多 4000通道，1011動(dòng)態(tài)線性范圍 |
檢測(cè)器 | APD （高性能雪崩光電二極管） |
光強(qiáng)控制 | 0.0001% - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng) |
軟件
中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
檢測(cè)參數(shù)
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布
●分子量
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●流體力學(xué)直徑 DH
●顆粒間相互作用力因子 kD
●溶液粘度
檢測(cè)技術(shù)
●動(dòng)態(tài)光散射
●電泳光散射
●相位分析光散射
●靜態(tài)光散射
相關(guān)技術(shù)
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